硅片缺陷觀測儀 硅片劃痕崩邊測定儀 硅片位錯層錯檢測儀
型號JC06-WDI
硅片缺陷觀測儀于對硅片的缺陷進行觀察,效果非常明顯,包括肉眼無法觀測的位錯、層錯、劃痕、崩邊等。
實時對圖像進行分析、測量和統計,提高傳統光學儀器的使用內涵。配合投影儀和計算機等顯示、存儲設備,能更好的觀測和保存研究結果;
硅片缺陷觀測儀-產品特點
適用于對硅片的缺陷觀察效果,非常明顯,包括肉眼無法觀測的位錯、層錯、劃痕、崩邊等;
使硅片缺陷觀察工作簡單化,準確化,同時極大程度降低此項工作強度;
實時對圖像進行分析、測量和統計,提高傳統光學儀器的使用內涵。配合投影儀和計算機等顯示、存儲設備,能更好的觀測和保存研究結果;
使用 1/2"CMOS 感光芯片,具有體積小,技術*,像素較高, 成像清晰 、線條細膩、色彩豐富;
傳輸接口為 USB2.0 高速接口, 軟件模塊化設計 ;
有效分辨率為 200 萬像素;
所配軟件能兼容 windows 2000 和 windows XP 操作系統。
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